КАТЕГОРИИ: Архитектура-(3434)Астрономия-(809)Биология-(7483)Биотехнологии-(1457)Военное дело-(14632)Высокие технологии-(1363)География-(913)Геология-(1438)Государство-(451)Демография-(1065)Дом-(47672)Журналистика и СМИ-(912)Изобретательство-(14524)Иностранные языки-(4268)Информатика-(17799)Искусство-(1338)История-(13644)Компьютеры-(11121)Косметика-(55)Кулинария-(373)Культура-(8427)Лингвистика-(374)Литература-(1642)Маркетинг-(23702)Математика-(16968)Машиностроение-(1700)Медицина-(12668)Менеджмент-(24684)Механика-(15423)Науковедение-(506)Образование-(11852)Охрана труда-(3308)Педагогика-(5571)Полиграфия-(1312)Политика-(7869)Право-(5454)Приборостроение-(1369)Программирование-(2801)Производство-(97182)Промышленность-(8706)Психология-(18388)Религия-(3217)Связь-(10668)Сельское хозяйство-(299)Социология-(6455)Спорт-(42831)Строительство-(4793)Торговля-(5050)Транспорт-(2929)Туризм-(1568)Физика-(3942)Философия-(17015)Финансы-(26596)Химия-(22929)Экология-(12095)Экономика-(9961)Электроника-(8441)Электротехника-(4623)Энергетика-(12629)Юриспруденция-(1492)Ядерная техника-(1748) |
Построение проверяющего теста. Задана функция алгебры логики (ФАЛ):
Задана функция алгебры логики (ФАЛ): F={0, 4, 5, 7} a, b, c Минимизируем заданную ФАЛ с помощью карты Карно и построим релейно-контактную схему для функции: F={000, 100, 101, 111} a, b, c Рисунок 2.3 — Карта Карно функции F={000, 100, 101, 111} a, b, c В результате получаем минимизированную функцию: F= (2.14) Комбинационная релейно-контактная схема, соответствующая полученной ФАЛ, представлена на рисунке 2.4. Она содержит три входных реле — А, В и С и четыре контакта — a, b, c1 и с2. Рисунок 2.4 — Комбинационная релейно-контактная схема Общее число проверок для схемы с m входами равно 2m. Рассмотрим только одиночные неисправности контактов. Для построения тестов релейно-контактной схемы будем использовать ТФН. Рассматриваемая схема имеет восемь проверок, одно исправное и восемь неисправных состояний. Функции неисправностей могут быть рассчитаны двумя методами. При первом методе неисправность вносят в схему и по полученной структуре схемы определяют искомую функцию. Схема с внесенной неисправностью, например коротким замыканием контакта а, реализует функцию f1= . Второй метод использует влияние неисправности на формулу, отражающую структуру схемы. Между ее буквами и контактами схемы существует взаимно однозначное взаимодействие. Короткое замыкание контакта соответствует переводу соответствующей буквы в единицу, а разрыв контакта — в нуль. Для короткого замыкания контакта a функция будет иметь вид f1= , а для обрыва — f2= . В соответствии с рассмотренными методами определения функции неисправностей контактов схемы они имеют вид: f1= f2= f3= f4= f5= f6= f7= f8= Для заданной релейно-контактной схемы ТФН представлена в таблице 2.6. Таблица 2.6 — Таблица функций неисправностей
На основании ТФН и в соответствии с выражением 2.1 для вычисления проверяющей функции находим проверяющие функции: φ1=1v3 φ2=5v7 φ3=0v4 φ4=2v6 φ5=6 φ6=5v7 φ7=0v4 φ8=1 Проверяющий тест в соответствии с выражением 2.2 равен: Тп= φ1∙ φ2∙ φ3∙ φ4∙ φ5∙ φ6∙ φ7∙ φ8= =(1v3)∙(5v7)∙(0v4)∙(2v6)∙6∙(5v7)∙(0v4)∙1=(5v7)∙(0v4)∙6∙1= =0∙1∙5∙6v0∙1∙6∙7v1∙4∙5∙6v1∙4∙6∙7 (2.15) Это выражение содержит четыре минимальных теста: Тп1=0∙1∙5∙6 Тп2=0∙1∙6∙7 Тп3=1∙4∙5∙6 Тп4=1∙4∙6∙7
Дата добавления: 2015-06-28; Просмотров: 926; Нарушение авторских прав?; Мы поможем в написании вашей работы! Нам важно ваше мнение! Был ли полезен опубликованный материал? Да | Нет |