Студопедия

КАТЕГОРИИ:


Архитектура-(3434)Астрономия-(809)Биология-(7483)Биотехнологии-(1457)Военное дело-(14632)Высокие технологии-(1363)География-(913)Геология-(1438)Государство-(451)Демография-(1065)Дом-(47672)Журналистика и СМИ-(912)Изобретательство-(14524)Иностранные языки-(4268)Информатика-(17799)Искусство-(1338)История-(13644)Компьютеры-(11121)Косметика-(55)Кулинария-(373)Культура-(8427)Лингвистика-(374)Литература-(1642)Маркетинг-(23702)Математика-(16968)Машиностроение-(1700)Медицина-(12668)Менеджмент-(24684)Механика-(15423)Науковедение-(506)Образование-(11852)Охрана труда-(3308)Педагогика-(5571)Полиграфия-(1312)Политика-(7869)Право-(5454)Приборостроение-(1369)Программирование-(2801)Производство-(97182)Промышленность-(8706)Психология-(18388)Религия-(3217)Связь-(10668)Сельское хозяйство-(299)Социология-(6455)Спорт-(42831)Строительство-(4793)Торговля-(5050)Транспорт-(2929)Туризм-(1568)Физика-(3942)Философия-(17015)Финансы-(26596)Химия-(22929)Экология-(12095)Экономика-(9961)Электроника-(8441)Электротехника-(4623)Энергетика-(12629)Юриспруденция-(1492)Ядерная техника-(1748)

При термическом окислении кремния




Перераспределение легирующих примесей

 

При термическом окислении кремния образование диоксида кремния происходит путем окисления кремния молекулами окислителя, диффундирующими через плёнку диоксида. Толщина образовавшейся плёнки диоксида кремния x ox связана с толщиной прокисленного кремния x Si соотношением: x Si= a x ox, где a = W(Si)/W(SiO2) = 0.45. Соответственно, скорость движения межфазной границы (МФГ) Si–SiO2, U = 0.45 U ox. На движущейся МФГ происходит перераспределение легирующей примеси таким образом, что отношение концентраций примеси в кремнии С и в диоксиде кремния C ox по разные стороны МФГ остаётся постоянным в течение всего времени окисления. Это отношение, определяемое разностью химпотенциалов примеси по разные стороны МФГ, является характеристикой примеси и называется термодинамически равновесным коэффициентом сегрегации (перераспределения):

.

Другим фактором, определяющим перераспределение примеси на МФГ Si/SiO2, являются коэффициенты диффузии примеси в каждой фазе. В зависимости от значений коэффициентов сегрегации и отношений коэффициентов диффузии r = D (Si)/ D (SiO2) могут реализоваться 4 возможных варианта распределений примеси (рис. 2.4). Значения m s и r для различных легирующих примесей представлены в табл. 2.3.

 

Таблица 2.3. Значения ms и r для различных легирующих примесей

в системе Si/SiO2

 

Вариант рис. 2.4 Примесь m s r
а б в г B Al P, As, Sb Ga, In 0.1 – 0.5 ~10–3 102 – 103 ~20 102 – 103>103 ~10–3 102 – 103 ~10–3

 


Как видно из рис. 2.4 и табл. 2.3, примеси с большим коэффициентом сегрегации (m s > 1/a) и большим r (P, As, Sb) оттесняются движущейся МФГ и накапливаются в приповерхностной области кремния. Примеси с малым коэффициентом сегрегации (m s < 1/a) и большим r (B), наоборот, втяги-ваются надвигающейся МФГ и накапливаются в плёнке диоксида кремния. Примеси с малым r обнаруживают обеднение на поверхности диоксида кремния вследствие испарения, при этом скачок концентрации на МФГ остаётся либо в пользу кремния (Ga, In), либо в пользу диоксида кремния (Al).

 




Поделиться с друзьями:


Дата добавления: 2017-02-01; Просмотров: 88; Нарушение авторских прав?; Мы поможем в написании вашей работы!


Нам важно ваше мнение! Был ли полезен опубликованный материал? Да | Нет



studopedia.su - Студопедия (2013 - 2024) год. Все материалы представленные на сайте исключительно с целью ознакомления читателями и не преследуют коммерческих целей или нарушение авторских прав! Последнее добавление




Генерация страницы за: 0.009 сек.